Pomiar widm absorpcyjnych UV-Vis ciał stałych – spektroskopia refleksyjna

Pomiar widm absorpcyjnych UV-Vis ciał stałych metodą spektroskopii refleksyjnej umożliwia ocenę właściwości optycznych materiałów poprzez analizę ich zdolności do pochłaniania i odbijania promieniowania w zakresie ultrafioletu i światła widzialnego. Metoda ta jest szczególnie przydatna w badaniach materiałów nieprzezroczystych lub półprzezroczystych, dla których klasyczny pomiar transmisyjny nie jest możliwy.
Badanie znajduje zastosowanie w analizie proszków, półprzewodników. tworzyw sztucznych, pigmentów, powłok, materiałów polimerowych, kompozytów oraz innych ciał stałych, umożliwiając ocenę barwy, obecności dodatków optycznych, stabilności materiału oraz porównanie próbek referencyjnych. Analiza widm UV-Vis pozwala również na monitorowanie zmian zachodzących w materiale pod wpływem procesów technologicznych lub starzenia.
Usługa wspiera kontrolę jakości, badania porównawcze oraz rozwój materiałów, dostarczając rzetelnych danych o właściwościach optycznych badanych próbek. Istnieje możliwość wyznaczenia szerokości przerwy wzbronionej (band gap) na bazie otrzymanych widm refleksyjnych.